本申請公開了一種測試電路結(jié)構(gòu)，所述測試電路結(jié)構(gòu)包括：射頻模塊、多個天線單元、多個天線匹配電路和阻抗匹配電路，所述射頻模塊通過所述天線匹配電路與所述天線單元電連接，所述阻抗匹配電路與所述天線匹配電路、所述天線單元電連接，本申請實(shí)施例還公開了一種天線測試方法，能夠應(yīng)用于本申請實(shí)施例提供的測試電路結(jié)構(gòu)；通過本申請實(shí)施例提供的測試電路結(jié)構(gòu)，能夠在需要對終端存在多個天線的情況下，對多個天線中的其中一天線進(jìn)行調(diào)試測試的情況下，通過在無需檢測的天線跟射頻模塊之間增加一組阻抗匹配電路，通過本申請實(shí)施例提供的阻抗匹配電路將阻抗直接接到地，能夠降低調(diào)試時的誤差，從而提升多個天線在調(diào)試測試的精準(zhǔn)度。